Темнопольная микроскопия — метод получения изображения в оптических и электронных микроскопах, при котором на объектив попадает только рассеянный пучок, а интенсивный опорный пучок отсекается. Как следствие, изображения образцов получается светлым на темном поле. Отсечения основного опорного пучка увеличивает контрастность изображения, поскольку нет интенсивного фона. В то же время, использование хуже сфокусированного рассеянного пучка уменьшает разрешение.

Недостатком темнопольной микроскопии часто является то, что рассеянный пучок слишком слаб, что требует сильных пучков, которые могут повредить образец. В общем, изображения, полученные в светлом и темном полях часто не простые негативами одно, по другой — на них видны различные детали. Обычно оба метода используют параллельно.

В электронных микроскопах при изучении кристаллических речевых используется брэгговского рассеяния. Благодаря этому на изображениях в темном поле обычно лучше видны области с дефектами кристаллической стуктуры, где условия Брэгга нарушаются.

Видео по теме

Изображения по теме

  • Темнопольная микроскопия
  • Темнопольная микроскопия
  • Темнопольная микроскопия
  • Темнопольная микроскопия
  • Темнопольная микроскопия
  • Темнопольная микроскопия
  • Темнопольная микроскопия
  • Темнопольная микроскопия
  • Темнопольная микроскопия
  • Темнопольная микроскопия
  • Темнопольная микроскопия
  • Темнопольная микроскопия
  • Темнопольная микроскопия
  • Темнопольная микроскопия
  • Темнопольная микроскопия
  • Темнопольная микроскопия
  • Темнопольная микроскопия
  • Темнопольная микроскопия